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21 Sep
du 21 septembre 2015 au 24 septembre 2015 de 09:00 à 17:00 payant
Porte de Versailles - 1 place de la Porte de Versailles, 75015 Paris

Congrès International de Métrologie 2015 : Mesurer, analyser et innover : le défi permanent !

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Participez au CIM (Congrès International de Métrologie) 2015, et rencontrez des acteurs industriels et scientifiques du domaine de la Métrologie en un même lieu.
Ce Congrès est unique en Europe :

  • il présente les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et leurs implications pour l’industrie.
  • il montre également comment la mesure améliore, au quotidien, les processus industriels et la maîtrise des risques.

Le public visé est multiple et industriel à près de 70 % (des utilisateurs de moyens de mesure de toutes industries et laboratoires, des responsables fiabilité et qualité, managers et décideurs, des constructeurs d’appareils de mesure, des enseignants et chercheurs).

Un programme pour les industriels

Ce carrefour d’échanges entre industriels et scientifiques propose un programme varié autour des thèmes de la Maitrise des processus de mesure, d’analyse et d’essais, des Métiers de la mesure, des Domaines réglementaires et la Nouvelle métrologie et nouveaux secteurs, qui s’articulent avec :

– 6 tables rondes industrielles

  • Les bonnes pratiques en santé
  • Transition énergétique : la métrologie relève le défi
  • L’analyse sensorielle au service de la métrologie
  • Externaliser la fonction métrologie : rêve ou réalité ?
  • Agro-alimentaire : le plus métrologique
  • Mesure et maîtrise des risques : nouvelle approche ISO 9001

– Près de 180 conférences seront présentées sur des sujets très variés

Les grands domaines techniques sont abordés : mécanique, température, dimensionnel et 3D, débit, électricité, optique … Les rappels plus généraux comme les incertitudes de mesure, l’apport des statistiques, le SI … ne sont pas oubliés.
Les nouvelles préoccupations sont également présentes : la sécurité dans le secteur médical et l’agro-alimentaire, les défis liés à la transition énergétique, les nanotechnologies …

– Organisation de visites techniques

Des visites à l’Observatoire de Paris, chez SOPEMEA et au LNE sont organisées.

– Exposition des innovations technologiques et des professionnels de la mesure

Participer au CIM c’est …

… rencontrer les « bonnes » personnes qui vont conduire plus rapidement aux « bonnes » solutions,
… nouer une vraie relation professionnelle avec des homologues,
… comprendre l’apport décisionnel de la métrologie dans les processus industriels,
… découvrir les technologies et les solutions de notre quotidien de demain.

Le CIM 2015 se tiendra du 21 au 24 septembre 2015 à Paris en conjonction avec le salon Enova.

Inscription au CIM 2015 et programme

www.metrologie2015.com

info@cfmetrologie.com

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